Образование высшее. Новосибирский электротехнический институт связи
(НЭИС), факультет радиосвязи и радиовещания, 1979 г.
Учёная степень: кандидат технических наук. Учёное звание: доцент.
Ведёт дисциплины:
- микропроцессоры и цифровая обработка сигналов (МП и ЦОС);
- вычислительная техника и информационные технологии (ВИ и Т);
- цифровая вычислительная техника (ЦВТ);
- микропроцессоры в устройствах и системах (МП в УС);
- информационные технологии проектирования радиоэлектронных средств (ИТП РЭС);
- метрология.
Основные публикации:
1. Борисов А.В., Петров В.П. Применение персональных ЭВМ для измерения
параметров и автоматического анализа СВЧ-устройств // Электронные
устройства. Сб. науч.тр. учеб. ин-тов связи. – Л., 1988. -с. 36 – 42.
2. Борисов А.В. Способы оценки и уменьшения погрешности дискретных методов
измерения коэффициентов отражения // Моделирование систем и процессов
связи: Сб. науч.тр. учеб. ин-тов связи. – Л., 1988. -с. 126 – 129.
3. Борисов А.В., Журавлева О.Б., Мульдевиц М.К., Рясный Ю.В.
Автоматизированная установка для измерения параметров оконечных и
проходных устройств СВЧ // Тр.НИИ радио. – 1983. - №3. – с.83-88.
4. Калмыков А.И., Бирюков И.В., Борисов А.В. Исследование характеристик
детектора и метода ее коррекции при измерении комплексного коэффициента
отражения // Конструирование и технология радиоэлектронных средств: Сб.
науч.тр. НЭТИ. – Новосибирск, 1990. с. – 52 – 56
5. Петров В.П., Савелькаев С.В., Борисов А.В. Авторское свидетельство на
изобретение №1682942. Держатель транзисторов в устройствах для измерения
электрических параметров.1991.
6. Рясный Ю.В., Борисов А.В., Лоскутов А.Н., Чашков М.С. Способ измерения
S- параметров транзисторов СВЧ в линейном режиме. Патент на изобретение
№2361227, 2009.
7. Борисов А.В., Тютикова А.С. Метрологическое обеспечение систем
схемотехнического моделирования // Электронные компоненты.-2004.-№8.
8. Шауэрман А.А., Жариков М.С., Борисов А.В. Автоматизированный измеритель
комплексного коэффициента отражения на основе логарифмического усилителя.
Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета.
Красноярск 2010, с.258-263.
9. В.И. Сединин, А.В. Борисов, А.А. Шауэрман, Л.Ю. Забелин.
Микропроцессорный измеритель характеристик полупроводниковых приборов.
Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и
технологии National Instruments: Сборник трудов VII научно-практической
конференции. – М.: РУДН, 2008. – 589 с.
10. Ю.В. Рясный, А.В. Борисов, А.В. Лоскутов, М.С. Чашков Анализ метода
измерения коэффициентов отражений скалярным рефлектометром с переменными
параметрами. // Электросвязь. – Москва. № 9 -2007. –с.42-43.
11. Борисов А.В. Лаборатории с удаленным доступом //
Инфосфера.-2006.-№28.-с.21-22.
12. A.V. Borisov, B.I. Krouk, N.V. Popov Remote Access Laboratory for
Electronic Course. // 2008 IEEE REGION 8 INTERNATIONAL CONFERENCE ON
COMPUTATIONAL TECHNOLOGIES IN ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERING.
SIBIRCON 2008. –NOVOSIBIRSK. – JULY 21-25 2008. –S.62-67
